我國在片2mmS參數(shù)校準(zhǔn)技術(shù)研究取得突破

      近日，航天科工二院203所在2mm頻段在片校準(zhǔn)技術(shù)研究中取得突破，達(dá)到國內(nèi)領(lǐng)先水平。提升在片S參數(shù)校準(zhǔn)能力對于提高我國毫米波器件設(shè)計制造水平有著重要的意義，該技術(shù)將在車載雷達(dá)、跑道異物檢測、風(fēng)云三號氣象探測有所應(yīng)用，具有一定經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。
      在片S參數(shù)是衡量裸芯片電特性的一個極其重要的指標(biāo)，它涵蓋了反射與傳輸特性、幅度與相位特性，能對絕大多數(shù)在片器件，如低噪聲放大器、功率單片等裸芯片的電特性進(jìn)行完全的表征。隨著我國毫米波設(shè)計制造水平的不斷提升，目前以實現(xiàn)國產(chǎn)化的毫米波器件有幾十個種類的上百種型號。但相比于國際上先進(jìn)國家的設(shè)計制造水品，我國自行設(shè)計研制的毫米波元器件的性能指標(biāo)還存在著一定的差距。
      開展片上電路的S參數(shù)的計量校準(zhǔn)工作，能夠保證量值溯源的準(zhǔn)確性，滿足溯源需求，對國內(nèi)在片S參數(shù)測量校準(zhǔn)工作加以規(guī)范。在片S參數(shù)測量能夠跟蹤服務(wù)于產(chǎn)品的設(shè)計、定型、生產(chǎn)的全過程，確保在片上管芯的研制設(shè)計階段，就對該產(chǎn)品的S參數(shù)特性有著準(zhǔn)確的測量，避免封裝后測量時封裝和測試架的影響，確保了產(chǎn)品的質(zhì)量，并縮短了產(chǎn)品的研制周期。

      項目負(fù)責(zé)人陳婷介紹道，今后203所將全面鋪開在片S參數(shù)校準(zhǔn)，申報國家校準(zhǔn)檢測能力認(rèn)可，繼續(xù)開拓計量校準(zhǔn)能力市場。