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  • 使用紅外測(cè)溫儀時(shí),減少環(huán)境與背景輻射影響的措施

    時(shí)間:2017-12-05 作者: 閱讀:4762


    當(dāng)我們?cè)趹敉庥眉t外測(cè)溫儀進(jìn)行電力設(shè)備紅外檢測(cè)時(shí),檢測(cè)儀器所接收的紅外輻射除了受檢設(shè)備相應(yīng)部位的輻射還有其自身發(fā)射的輻射,以外,還會(huì)包括設(shè)備其他部位和背景的反射,以及直接射入太陽(yáng)輻射。這些輻射都將對(duì)設(shè)備待測(cè)部位的溫度造成干擾,對(duì)故障檢測(cè)帶來(lái)誤差。

    為了減少環(huán)境與背景輻射的影響,應(yīng)采取如下對(duì)策措施:

    盡可能選擇在陰天或者在日落左右傍晚無(wú)光照時(shí)間進(jìn)行

    這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽(yáng)輻射影響,對(duì)戶內(nèi)設(shè)備可以采用關(guān)掉照明燈,以及要避開(kāi)其他的輻射影響。

    對(duì)于高反射的設(shè)備表面

    應(yīng)該采取適當(dāng)措施來(lái)減少對(duì)太陽(yáng)輻射及周圍高溫物體輻射的影響。或者改變檢測(cè)角度,找到能避開(kāi)反射的最佳角度進(jìn)行檢測(cè)。

    為減少太陽(yáng)輻射及周圍高溫背景的輻射影響

    可在檢測(cè)時(shí)采取適當(dāng)?shù)恼趽醮胧?,或者在紅外熱像儀器上加裝適當(dāng)?shù)募t外濾光片,以便濾除太陽(yáng)及其他背景輻射。

    選擇參數(shù)適宜的儀器和檢測(cè)距離進(jìn)行檢測(cè),使受檢測(cè)的設(shè)備部位充滿儀器視場(chǎng),從而減少背景輻射的干擾

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